2007-04-12
2-Chip Silicon PIN Photodiode
2-fach-Silizium-PIN-Fotodiode
Version 1.0
KOM 2125
Features:
Besondere Merkmale:
• Especially suitable for applications from 400 nm to
1100 nm
• Short switching time (typ. 25 ns)
• Suitable for SMT
• Speziell geeignet für Anwendungen im Bereich von
400 nm bis 1100 nm
• Kurze Schaltzeit (typ. 25 ns)
• SMT-fähig
Applications
Anwendungen
•
•
•
•
Industrial electronics
For control and drive circuits
Edge control
Path and angle scanning
•
•
•
•
Industrieelektronik
Messen / Steuern / Regeln
Kantenerkennung
Weg- bzw. Winkelabtastungen
Ordering Information
Bestellinformation
Type:
Photocurrent
Ordering Code
Typ:
Fotostrom
Bestellnummer
Ev = 1000 lx, Std. Light A, VR = 5 V;
Diode A
IP [µA]
KOM 2125
2007-04-12
40 (≥ 30) (Diode A)
100 (≥ 75) (Diode B)
Q65110A2703
1
Version 1.0
KOM 2125
Maximum Ratings (TA = 25 °C)
Grenzwerte
Parameter
Symbol
Values
Unit
Bezeichnung
Symbol
Werte
Einheit
Operating and storage temperature range
Betriebs- und Lagertemperatur
Top; Tstg
-40 ... 80
°C
Reverse voltage
Sperrspannung
VR
60
V
Total power dissipation
Verlustleistung
Ptot
150
mW
Characteristics (TA = 25 °C)
Kennwerte
Parameter
Symbol
Values
Bezeichnung
Symbol
Photocurrent
Fotostrom
(Ev = 1000 lx, Std. Light A, VR = 5 V; Diode A)
IP
40 (≥ 30)
µA
Photocurrent
Fotostrom
(VR = 5 V, λ = 870 nm, Ee = 1 mW/cm2 , Diode B)
IP
100 (≥ 75)
μA
Wavelength of max. sensitivity
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
λS max
850
nm
Spectral range of sensitivity
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
λ10%
400 ... 1100
nm
Radiant sensitive area
Bestrahlungsempfindliche Fläche
(Diode A)
A
4.00
mm2
Radiant sensitive area
Bestrahlungsempfindliche Fläche
(Diode B)
A
10.00
mm2
Dimensions of radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
(Diode A)
LxW
2x2
mm x
mm
Dimensions of radiant sensitive area
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
(Diode B)
LxW
2x5
mm x
mm
2007-04-12
2
Werte
Unit
Einheit
Version 1.0
KOM 2125
Parameter
Symbol
Values
Unit
Bezeichnung
Symbol
Werte
Einheit
Half angle
Halbwinkel
ϕ
± 60
Dark current
Dunkelstrom
(VR = 10 V; Diode A)
IR
5 (≤ 30)
nA
Dark current
Dunkelstrom
(VR = 10 V; Diode B)
IR
10 (≤ 30)
nA
Spectral sensitivity of the chip
Spektrale Fotoempfindlichkeit des Chips
(λ = 870 nm)
Sλ typ
0.62
A/W
Quantum yield of the chip
Quantenausbeute des Chips
(λ = 870 nm)
η
0.88
Electro
ns
/Photon
Open-circuit voltage
Leerlaufspannung
(Ev = 1000 lx, Std. Light A)
VO
350 (≥ 300)
mV
Short-circuit current
Kurzschlussstrom
(Ev = 1000 lx, Std. Light A; Diode A)
ISC
38
µA
Short-circuit current
Kurzschlussstrom
(Ev = 1000 lx, Std. Light A; Diode B)
ISC
95
µA
Rise and fall time
Anstiegs- und Abfallzeit
tr, tf
0.018
µs
Rise and fall time
Schaltzeit
(VR = 5 V, RL = 50 Ω, λ = 850 nm; Diode B)
tr, tf
0.025
µs
Forward voltage
Durchlassspannung
(IF = 100 mA, E = 0)
VF
1
V
Capacitance
Kapazität
(VR = 0 V, f = 1MHz, E = 0; Diode A)
C0
40
pF
Capacitance
Kapazität
(VR = 0 V, f = 1MHz, E = 0; Diode B)
C0
100
pF
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3
°
Version 1.0
KOM 2125
Parameter
Symbol
Values
Unit
Bezeichnung
Symbol
Werte
Einheit
Temperature coefficient of VO
Temperaturkoeffizient von VO
TCV
-2.6
mV / K
Temperature coefficient of ISC
Temperaturkoeffizient von ISC
(Std. Light A)
TCI
0.18
%/K
Noise equivalent power
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
(λ = 870 nm, VR = 10 V; Diode A)
NEP
0.065
pW /
Hz½
Noise equivalent power
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
(λ = 870 nm, VR = 10 V; Diode B)
NEP
0.091
pW /
Hz½
Detection limit
Nachweisgrenze
(λ = 870 nm, VR = 10 V; Diode A)
D*
3.1e12
cm x
Hz½ / W
Detection limit
Nachweisgrenze
(λ = 870 nm, VR = 10 V; Diode B)
D*
3.5e12
cm x
Hz½ / W
Photocurrent / Open-Circuit Voltage
Fotostrom / Leerlaufspannung
IP (VR = 5 V) / VO = f(EV)
Relative Spectral Sensitivity
Relative spektrale Empfindlichkeit
Srel = f(λ)
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4
Version 1.0
KOM 2125
Total Power Dissipation
Verlustleistung
Ptot = f(TA)
Dark Current
Dunkelstrom
IR = f(VR), E = 0, normalized to 10 V / 25 °C
Capacitance
Kapazität
C = f(VR), f = 1 MHz, E = 0
Dark Current
Dunkelstrom
IR = f(TA), VR = 10 V, E = 0, normalized to TA = 25 °C
2007-04-12
5
Version 1.0
KOM 2125
Directional Characteristics
Winkeldiagramm
Srel = f(ϕ)
40
30
20
10
ϕ
0
OHF01402
1.0
50
0.8
60
0.6
70
0.4
80
0.2
0
90
100
1.0
0.8
0.6
0.4
0
20
40
60
80
Package Outline
Maßzeichnung
2
A
3
B
1
8.5 (0.335)
Cathode
8.2 (0.323)
6.7 (0.264)
6.2 (0.244)
Chip position
0...0.1 (0...0.004)
0.3 (0.012)
4.3 (0.169)
5.0 (0.197)
1.4 (0.055) ±0.2 (0.008)
4.5 (0.177)
Photosensitive area
A = 2 (0.079) x 2 (0.079)
B = 5 (0.197) x 2 (0.079)
0.9 (0.035)
0.7 (0.028)
5.2 (0.205)
Active area
1.2 (0.047)
1.1 (0.043)
GEOY6860
Dimensions in mm (inch). / Maße in mm (inch).
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6
100
120
Version 1.0
KOM 2125
Package
SMT DIL, Epoxy
Gehäuse
SMT DIL, Harz
Method of Taping
Gurtung
Dimensions in mm (inch). / Maße in mm (inch).
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7
Version 1.0
KOM 2125
Reflow Soldering Profile
Reflow-Lötprofil
Preconditioning: JEDEC Level 4 acc. to JEDEC J-STD-020D.01
OHLA0688
300
˚C
T
Maximum Solder Profile
250
˚C
245 ˚C +0
-10 ˚C
240 ˚C
˚C
235 ˚C +5
-0 ˚C
217 ˚C
10 s min
200
30 s max
Ramp Down
6 K/s (max)
150
100 s max
120 s max
100
Ramp Up
3 K/s (max)
50
25 ˚C
0
0
50
100
150
200
250
t
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8
s
300
Version 1.0
KOM 2125
Disclaimer
Disclaimer
Attention please!
The information describes the type of component and
shall not be considered as assured characteristics.
Terms of delivery and rights to change design reserved.
Due to technical requirements components may contain
dangerous substances.
For information on the types in question please contact
our Sales Organization.
If printed or downloaded, please find the latest version in
the Internet.
Packing
Please use the recycling operators known to you. We
can also help you – get in touch with your nearest sales
office.
By agreement we will take packing material back, if it is
sorted. You must bear the costs of transport. For
packing material that is returned to us unsorted or which
we are not obliged to accept, we shall have to invoice
you for any costs incurred.
Components used in life-support devices or
systems must be expressly authorized for such
purpose!
Critical components* may only be used in life-support
devices** or systems with the express written approval
of OSRAM OS.
Bitte beachten!
Lieferbedingungen und Änderungen im Design
vorbehalten. Aufgrund technischer Anforderungen
können die Bauteile Gefahrstoffe enthalten. Für weitere
Informationen zu gewünschten Bauteilen, wenden Sie
sich bitte an unseren Vertrieb. Falls Sie dieses
Datenblatt ausgedruckt oder heruntergeladen haben,
finden Sie die aktuellste Version im Internet.
Verpackung
Benutzen Sie bitte die Ihnen bekannten Recyclingwege.
Wenn diese nicht bekannt sein sollten, wenden Sie sich
bitte an das nächstgelegene Vertriebsbüro. Wir nehmen
das Verpackungsmaterial zurück, falls dies vereinbart
wurde und das Material sortiert ist. Sie tragen die
Transportkosten. Für Verpackungsmaterial, das
unsortiert an uns zurückgeschickt wird oder das wir nicht
annehmen müssen, stellen wir Ihnen die anfallenden
Kosten in Rechnung.
Bauteile, die in lebenserhaltenden Apparaten und
Systemen eingesetzt werden, müssen für diese
Zwecke ausdrücklich zugelassen sein!
Kritische Bauteile* dürfen in lebenserhaltenden
Apparaten und Systemen** nur dann eingesetzt
werden, wenn ein schriftliches Einverständnis von
OSRAM OS vorliegt.
*) A critical component is a component used in a
life-support device or system whose failure can
reasonably be expected to cause the failure of that
life-support device or system, or to affect its safety or the
effectiveness of that device or system.
**) Life support devices or systems are intended (a) to be
implanted in the human body, or (b) to support and/or
maintain and sustain human life. If they fail, it is
reasonable to assume that the health and the life of the
user may be endangered.
*) Ein kritisches Bauteil ist ein Bauteil, das in
lebenserhaltenden
Apparaten
oder
Systemen
eingesetzt wird und dessen Defekt voraussichtlich zu
einer Fehlfunktion dieses lebenserhaltenden Apparates
oder Systems führen wird oder die Sicherheit oder
Effektivität
dieses
Apparates
oder
Systems
beeinträchtigt.
**) Lebenserhaltende Apparate oder Systeme sind für
(a) die Implantierung in den menschlichen Körper oder
(b) für die Lebenserhaltung bestimmt. Falls Sie
versagen, kann davon ausgegangen werden, dass die
Gesundheit und das Leben des Patienten in Gefahr ist.
2007-04-12
9
Version 1.0
KOM 2125
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2007-04-12
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